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文献
J-GLOBAL ID：200902020596775783
整理番号：90A0443214
けい素上のダイヤモンド薄膜の成長および境界のTEM観察
Growth of diamond thin films on silicon and TEM observation of the interface.
KOBAYASHI K
(Industrial Research Inst. Kanagawa Prefecture, Yokohama, JPN)
,
KARASAWA S
(Industrial Research Inst. Kanagawa Prefecture, Yokohama, JPN)
,
WATANABE T
(Industrial Research Inst. Kanagawa Prefecture, Yokohama, JPN)
,
TOGASHI F
(Science Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名：
Journal of Crystal Growth
(Journal of Crystal Growth)
巻： 99 号： 1/4 Pt.2 ページ： 1211-1214 発行年： 1990年01月
JST資料番号： B0942A ISSN： 0022-0248 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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