文献
J-GLOBAL ID:200902024347379571
整理番号:90A0012642
CMOS ICの欠陥の電気的特性とその検出方法
Electrical properties and detection methods for CMOS IC defects.
著者 (2件):
SODEN J M
(Sandia National Lab., NM, USA)
,
HAWKINS C F
(Univ. New Mexico, NM)
資料名:
Proceedings of the 1st European Test Conference, 1989
(Proceedings of the 1st European Test Conference, 1989)
ページ:
159-167
発行年:
1989年
JST資料番号:
K19890452
ISBN:
0-8186-1937-6
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)