文献
J-GLOBAL ID:200902024874241782
整理番号:89A0151827
力顕微鏡を用いた絶縁体表面上の局所電荷の蓄積と結像
Deposition and imaging of localized charge on insulator surfaces using a force microscope.
著者 (4件):
STERN J E
(IBM Research Division, CA, USA)
,
TERRIS B D
(IBM Research Division, CA, USA)
,
MAMIN H J
(IBM Research Division, CA, USA)
,
RUGAR D
(IBM Research Division, CA, USA)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
53
号:
26
ページ:
2717-2719
発行年:
1988年12月26日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)