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文献
J-GLOBAL ID：200902026132267660
整理番号：84A0172093
CMOS回路におけるブリッジ故障(短路)の検査
Testing for bridging faults (shorts) in CMOS circuits.
ACKEN J M
(Sandia National Lab., New Mexico)
資料名：
Proceedings of the Design Automation Conference
(Proceedings of the Design Automation Conference)
巻： 20th ページ： 717-718 発行年： 1983年
JST資料番号： D0553A ISSN： 0738-100X 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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