文献
J-GLOBAL ID:200902026763412726
整理番号:82A0146130
TiN薄膜の酸化動力学
Oxidation kinetics of TiN thin films.
著者 (3件):
WITTMER M
(Swiss Federal Inst. Technology)
,
NOSER J
(Swiss Federal Inst. Technology)
,
MELCHIOR H
(Swiss Federal Inst. Technology)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
52
号:
11
ページ:
6659-6664
発行年:
1981年11月
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)