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文献
J-GLOBAL ID：200902027391680008
整理番号：91A0342237
高度に観察可能な条件の下に,論理回路の試験可能な設計
A testable design of logic circuits under highly observable condition.
XIAOQING W
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KINOSHITA K
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名：
Proceedings. International Test Conference
(Proceedings. International Test Conference)
巻： 1990 ページ： 955-963 発行年： 1990年
JST資料番号： E0211B ISSN： 1089-3539 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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