文献
J-GLOBAL ID:200902029331674427
整理番号:90A0104436
原子間力顕微鏡法を使って調べた接触帯電
Contact electrification using force microscopy.
著者 (4件):
TERRIS B D
(IBM Research Division, California)
,
STERN J E
(IBM Research Division, California)
,
RUGAR D
(IBM Research Division, California)
,
MAMIN H J
(IBM Research Division, California)
資料名:
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻:
63
号:
24
ページ:
2669-2672
発行年:
1989年12月11日
JST資料番号:
H0070A
ISSN:
0031-9007
CODEN:
PRLTAO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)