文献
J-GLOBAL ID:200902032941745645
整理番号:88A0060593
LPCVD多結晶シリコン皮膜の構造に対する低圧の影響
The effect of low pressure on the structure of LPCVD polycrystalline silicon films.
著者 (4件):
JOUBERT P
(Centre National d’<span style=text-decoration:overline>E ́</span>tudes des T<span style=text-decoration:overline>e ́</span>l<span style=text-decoration:overline>e ́</span>communications, Lannion, FRA)
,
LOISEL B
(Centre National d’<span style=text-decoration:overline>E ́</span>tudes des T<span style=text-decoration:overline>e ́</span>l<span style=text-decoration:overline>e ́</span>communications, Lannion, FRA)
,
CHOUAN Y
(Centre National d’<span style=text-decoration:overline>E ́</span>tudes des T<span style=text-decoration:overline>e ́</span>l<span style=text-decoration:overline>e ́</span>communications, Lannion, FRA)
,
HAJI L
(Centre National d’<span style=text-decoration:overline>E ́</span>tudes des T<span style=text-decoration:overline>e ́</span>l<span style=text-decoration:overline>e ́</span>communications, Lannion, FRA)
資料名:
Journal of the Electrochemical Society
(Journal of the Electrochemical Society)
巻:
134
号:
10
ページ:
2541-2545
発行年:
1987年10月
JST資料番号:
C0285A
ISSN:
1945-7111
CODEN:
JESOAN
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)