文献
J-GLOBAL ID:200902033355707307
整理番号:87A0064722
O<span style=text-decoration:overline><sub>2</sub><sup>+</sup></span>衝撃下のシリコンおよびゲルマニウムのSIMS-XPSによる研究
A SIMS-XPS study on silicon and germanium under O2+ bombardment.
著者 (1件):
REUTER W
(IBM T.J. Watson Research Center, NY, USA)
資料名:
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻:
15
号:
1/6
ページ:
173-175
発行年:
1986年04月
JST資料番号:
H0899A
ISSN:
0168-583X
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)