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文献
J-GLOBAL ID：200902033789938820
整理番号：87A0221825
走査型トンネル顕微鏡法
Scanning tunneling microscopy.
HANSMA P K
(Univ. California, CA, USA)
,
TERSOFF J
(IBM T.J. Watson Research Center, NY, USA)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 61 号： 2 ページ： R1-R23 発行年： 1987年01月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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