文献
J-GLOBAL ID:200902034129384712
整理番号:91A0254943
Proton damage effects in EEV charge coupled devices.
著者 (4件):
HOLLAND A
(Univ. Leicester, Leicester, GBR)
,
ABBEY A
(Univ. Leicester, Leicester, GBR)
,
LUMB D
(Univ. Leicester, Leicester, GBR)
,
MCCARTHY K
(Univ. Leicester, Leicester, GBR)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
1344
ページ:
378-395
発行年:
1990年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)