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文献
J-GLOBAL ID：200902035674198116
整理番号：90A0091574
100kVでの解像度が2Åより優れたアンニュラ暗視野電子顕微鏡像
Annular dark field electron microscope images with better than 2Å resolution at 100kV.
SHIN D H
(Cornell Univ., New York)
,
KIRKLAND E J
(Cornell Univ., New York)
,
SILCOX J
(Cornell Univ., New York)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 55 号： 23 ページ： 2456-2458 発行年： 1989年12月04日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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