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文献
J-GLOBAL ID：200902036100181475
整理番号：85A0391818
示差X線回折 波長変化に基づく方法の理論的基礎
Differential X-ray diffraction: A theoretical basis for a technique based on wavelength variation.
NICHOLS M C
(Sandia National Lab., California)
,
SMITH D K
(Pennsylvania State Univ.)
,
JOHNSON Q
(Lawrence Livermore National Lab., California)
資料名：
Journal of Applied Crystallography
(Journal of Applied Crystallography)
巻： 18 号： 1 ページ： 8-15 発行年： 1985年02月01日
JST資料番号： D0631A ISSN： 0021-8898 CODEN： JACGAR 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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