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文献
J-GLOBAL ID：200902036620634510
整理番号：93A0063859
加圧酸分解/誘導結合プラズマ発光分析法による炭化ケイ素,窒化ケイ素焼結体中の不純物の定量
Determination of trace impurities in sintered silicon carbide and silicon nitride by the pressure acid decomposition/ICP-AES.
上蓑義則
(名古屋工技試)
,
森川久
(名古屋工技試)
,
柘植明
(名古屋工技試)
,
中根清
(名古屋工技試)
,
飯田康夫
(名古屋工技試)
,
石塚紀夫
(名古屋工技試)
資料名：
分析化学
巻： 41 号： 12 ページ： T151-T156 発行年： 1992年12月
JST資料番号： F0008A ISSN： 0525-1931 CODEN： BNSKAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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