文献
J-GLOBAL ID:200902039186450693
整理番号:92A0199427
表面,薄膜,および超格子の研究のための赤外偏光解析装置
Infrared ellipsometer for the study of surfaces, thin films, and superlattices.
著者 (5件):
BREMER J
(Norwegian Inst. Technology-UNIT, Trondheim N, NOR)
,
HUNDERI O
(Norwegian Inst. Technology-UNIT, Trondheim N, NOR)
,
FANPING K
,
SKAULI T
(Norwegian Inst. Technology-UNIT, Trondheim N, NOR)
,
WOLD E
(Norwegian Inst. Technology-UNIT, Trondheim N, NOR)
資料名:
Applied Optics
(Applied Optics)
巻:
31
号:
4
ページ:
471-478
発行年:
1992年02月01日
JST資料番号:
B0026B
ISSN:
1559-128X
CODEN:
APOPAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)