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文献
J-GLOBAL ID:200902039299942878   整理番号:84A0196210

バッグランドドーズの均等化による電子ビームリソグラフィーに対する近接効果の補正

Proximity effect correction for electron beam lithography by equalization of background dose.
著者 (2件):
OWEN G
(Hewlett-Packard, California)
RISSMAN P
(Hewlett-Packard, California)

資料名:
Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)

巻: 54  号:ページ: 3573-3581  発行年: 1983年06月 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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