文献
J-GLOBAL ID:200902039299942878
整理番号:84A0196210
バッグランドドーズの均等化による電子ビームリソグラフィーに対する近接効果の補正
Proximity effect correction for electron beam lithography by equalization of background dose.
著者 (2件):
OWEN G
(Hewlett-Packard, California)
,
RISSMAN P
(Hewlett-Packard, California)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
54
号:
6
ページ:
3573-3581
発行年:
1983年06月
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)