文献
J-GLOBAL ID:200902039461476827
整理番号:89A0415444
物理蒸着TiN膜における残留応力,X線弾性定数,格子パラメータ間の相関関係
The relationship between residual stress, X-ray elastic constants and lattice parameters in TiN films made by physical vapor deposition.
著者 (1件):
PERRY A J
(GTE Valenite Corp., MI, USA)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
170
号:
1
ページ:
63-70
発行年:
1989年03月01日
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)