文献
J-GLOBAL ID:200902041685047888
整理番号:89A0083971
VLSIテストシステム用の集積回路によるピン電子回路
Integrated pin electronics for a VLSI test system.
著者 (3件):
BRANSON C
(Tektronix, Inc., OR, USA)
,
MURRAY D
(Tektronix, Inc., OR, USA)
,
SULLIVAN S
(Tektronix, Inc., OR, USA)
資料名:
Proceedings. International Test Conference
(Proceedings. International Test Conference)
巻:
1988
ページ:
23-27
発行年:
1988年
JST資料番号:
E0211B
ISSN:
1089-3539
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)