文献
J-GLOBAL ID:200902041823436084
整理番号:81A0367997
内部全反射顕微法 表面検査技術
Total internal reflection microscopy: a surface inspection technique.
著者 (1件):
TEMPLE P A
(U.S. Naval Weapons Center, California)
資料名:
Applied Optics
(Applied Optics)
巻:
20
号:
15
ページ:
2656-2664
発行年:
1981年08月01日
JST資料番号:
B0026B
ISSN:
1559-128X
CODEN:
APOPAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)