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文献
J-GLOBAL ID：200902042751682871
整理番号：92A0286626
DIATEST: A Fast Diagnostic Test Pattern Generator for Combinational Circuits.
GRUENING T
(Univ. Hannover, Hannover, DEU)
,
MAHLSTEDT U
(Univ. Hannover, Hannover, DEU)
,
KOOPMEINERS H
(Univ. Hannover, Hannover, DEU)
資料名：
Digest of Technical Papers. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design
(Digest of Technical Papers. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design)
巻： 1991 ページ： 194-197 発行年： 1991年
JST資料番号： D0968C ISSN： 1092-3152 資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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