文献
J-GLOBAL ID:200902045364668592
整理番号:82A0105151
相変態に伴う小さな対称性変化の検出への収束ビーム電子回折の適用 I 概説と方法
The application of convergent-beam electron diffraction to the detection of small symmetry changes accompanying phase transformations. I. General and methods.
著者 (4件):
ECOB R C
(Univ. Cambridge)
,
SHAW M P
(Univ. Cambridge)
,
PORTER A J
(Univ. Cambridge)
,
RALPH B
(Univ. Cambridge)
資料名:
Philosophical Magazine. A. Physics of Condensed Matter: Structure, Defects and Mechanical Properties
(Philosophical Magazine. A. Physics of Condensed Matter: Structure, Defects and Mechanical Properties)
巻:
44
号:
5
ページ:
1117-1133
発行年:
1981年11月
JST資料番号:
E0753B
ISSN:
0141-8610
CODEN:
PMAADG
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)