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文献
J-GLOBAL ID：200902045476859943
整理番号：82A0294161
電子顕微鏡用樹脂の開発と低温における包埋の分析
Resin development for electron microscopy and an analysis of embedding at low temperature.
CARLEMALM E
(Univ. Basel, Switzerland)
,
GARAVITO R M
(Univ. Basel, Switzerland)
,
VILLIGER W
(Univ. Basel, Switzerland)
資料名：
Journal of Microscopy
(Journal of Microscopy)
巻： 126 号： 2 ページ： 123-143 発行年： 1982年05月
JST資料番号： B0454B ISSN： 0022-2720 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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