文献
J-GLOBAL ID:200902046727995660
整理番号:87A0152027
自己試験回路用の帰還シフトレジスタ
Feedback shift registers for self-testing circuits.
著者 (2件):
WANG L-T
(Stanford Univ., CA, USA)
,
MCCLUSKEY E J
(Stanford Univ., CA, USA)
資料名:
VLSI Systems Design
(VLSI Systems Design)
巻:
7
号:
12
ページ:
50-51,54-56,58
発行年:
1986年12月
JST資料番号:
C0505B
ISSN:
0279-2834
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)