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文献
J-GLOBAL ID：200902048745876271
整理番号：89A0113378
低エネルギー陽子誘起X線放出を利用した元素濃度の深さ方向プロフィル
Depth profiling of element concentration using low energy proton induced X-ray emission.
SHAANAN M
(Regional Council Misgav, Misgav, ISR)
,
RICHTERV
(Technion, Haifa, ISR)
,
KALISH R
(Technion, Haifa, ISR)
資料名：
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 35 号： 3/4 ページ： 319-325 発行年： 1988年12月
JST資料番号： H0899A ISSN： 0168-583X 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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