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文献
J-GLOBAL ID：200902050552989863
整理番号：87A0055423
Si(001)に関する走査トンネル顕微鏡
Scanning tunneling microscopy of Si(001).
HAMERS R J
(IBM Thomas J. Watson Research Center, NY, USA)
,
TROMP R M
(IBM Thomas J. Watson Research Center, NY, USA)
,
DEMUTH J E
(IBM Thomas J. Watson Research Center, NY, USA)
資料名：
Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics
(Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻： 34 号： 8 Pt 1 ページ： 5343-5357 発行年： 1986年10月15日
JST資料番号： D0746A ISSN： 1098-0121 CODEN： PRBMDO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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