文献
J-GLOBAL ID:200902052074497987
整理番号:86A0457296
低速電子線回折によって第二層まで測定したPt0.1Ni0.9(111)の表面偏析
Surface segregation on Pt0.1Ni0.9(111) measured two layers deep by low-energy electron diffraction.
著者 (4件):
BAUDOING R
(Univ. Scientifique et M<span style=text-decoration:overline>e ́</span>dicale de Grenoble, France)
,
GAUTHIER Y
(Univ. Scientifique et M<span style=text-decoration:overline>e ́</span>dicale de Grenoble, France)
,
LUNDBERG M
(Univ. Scientifique et M<span style=text-decoration:overline>e ́</span>dicale de Grenoble, France)
,
RUNDGREN J
(Univ. Scientifique et M<span style=text-decoration:overline>e ́</span>dicale de Grenoble, France)
資料名:
Journal of Physics. C. Solid State Physics
(Journal of Physics. C. Solid State Physics)
巻:
19
号:
16
ページ:
2825-2831
発行年:
1986年06月10日
JST資料番号:
B0914A
ISSN:
0022-3719
CODEN:
JPSOAW
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)