文献
J-GLOBAL ID:200902052395167660
整理番号:87A0069574
近視野の走査光学顕微鏡
Near-field optical-scanning microscopy.
著者 (3件):
DUERIG U
(IBM Zurich Research Lab., Rueschlikon, CHE)
,
POHL D W
(IBM Zurich Research Lab., Rueschlikon, CHE)
,
ROHNER F
(IBM Zurich Research Lab., Rueschlikon, CHE)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
59
号:
10
ページ:
3318-3327
発行年:
1986年05月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)