文献
J-GLOBAL ID:200902054005183655
整理番号:87A0018197
実用的な表面解析 AES,XPS,ISS及びSIMSの技術の状況と最近の発展
Practical surface analysis : State of the art and recent development in AES, XPS, ISS and SIMS.
著者 (1件):
HOFMANN S
(Max-Planck-Inst. Metallforschung, Stuttgart, DEU)
資料名:
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻:
9
号:
1/6
ページ:
3-20
発行年:
1986年07月
JST資料番号:
E0709A
ISSN:
0142-2421
CODEN:
SIANDQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)