文献
J-GLOBAL ID:200902054710920529
整理番号:85A0392586
GaAsP-InGaAsひずみ層超格子利用によるGaAsエピタキシャル層の欠陥低減
Defect reduction in GaAs epitaxial layers using a GaAsP-InGaAs strainedlayer superlattice.
著者 (4件):
TISCHLER M A
(North Carolina State Univ.)
,
KATSUYAMA T
(North Carolina State Univ.)
,
EL-MASRY N A
(North Carolina State Univ.)
,
BEDAIR S M
(North Carolina State Univ.)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
46
号:
3
ページ:
294-296
発行年:
1985年02月01日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)