文献
J-GLOBAL ID:200902055510928998
整理番号:87A0079383
電子回折パターンの微細構造に対する薄いSn/SnTe二層の角度不整合の影響
Influence of angular misorientation of thin Sn/SnTe bilayers on the fine structure of electron diffraction patterns.
著者 (4件):
PE<span style=text-decoration:overline>C ́</span>INA P N
(Univ. Zagreb, Zagreb, YUG)
,
MARINKOVI<span style=text-decoration:overline>C ́</span> V
(E. Kardelj Univ., Ljubljana, YUG)
,
KUNSTELJ D
(Univ. Zagreb, Zagreb, YUG)
,
KRANJC K
(Univ. Zagreb, Zagreb, YUG)
資料名:
Journal of Crystal Growth
(Journal of Crystal Growth)
巻:
76
号:
2
ページ:
476-484
発行年:
1986年08月
JST資料番号:
B0942A
ISSN:
0022-0248
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)