文献
J-GLOBAL ID:200902055655096001
整理番号:88A0113149
金属や半導体表面の微小粗さを測定する非線形光学
Nonlinear-optics method for studying and monitoring microscopic irregularities on the surfaces of metals and semiconductors.
著者 (5件):
AKTSIPETROV O A
(M.V. Lomonosov State Univ., Moscow, SUN)
,
KULYUK L L
(M.V. Lomonosov State Univ., Moscow, SUN)
,
PETUKHOV A V
(M.V. Lomonosov State Univ., Moscow, SUN)
,
STRUMBAN <span style=text-decoration:overline>E ́</span> E
(M.V. Lomonosov State Univ., Moscow, SUN)
,
TSYTSANU V I
(M.V. Lomonosov State Univ., Moscow, SUN)
資料名:
Soviet Technical Physics Letters
(Soviet Technical Physics Letters)
巻:
12
号:
11
ページ:
556-557
発行年:
1986年11月
JST資料番号:
H0665A
ISSN:
0360-120X
CODEN:
STPLD2
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)