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J-GLOBAL ID：200902055655465368 整理番号：87A0118148

X線光電子分光法(XPS),X線吸収分光法(XAS),分析電子顕微鏡法(AEM)による制御雰囲気下での触媒の特性化

Controlled atmosphere catalyst characterization by X-ray photoelectron spectroscopy(XPS), X-ray absorption spectroscopy(XAS), and analytical electron microscopy(AEM).

著者 (2件)：

CASTNER D G

(Chevron Research Co., CA, USA)

CHAN I Y

(Chevron Research Co., CA, USA)

資料名：

Microbeam Analysis (Microbeam Analysis)

巻： 21st ページ： 617-619 発行年： 1986年
JST資料番号： E0776B ISSN： 0278-1727 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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