文献
J-GLOBAL ID:200902057003561031
整理番号:92A0405357
Cs/Rb(0001)系における吸着サイトの幾何学の被覆率依存性 低エネルギー電子回折による分析
Coverage dependence of adsorption-site geometry in the Cs/R u(0001) system: A low-energy electron-diffraction analysis.
著者 (6件):
OVER H
(Fritz-Haber-Inst. Max-Planck-Gesellschaft, Berlin, DEU)
,
BLUDAU H
(Fritz-Haber-Inst. Max-Planck-Gesellschaft, Berlin, DEU)
,
SKOTTKE-KLEIN M
(Fritz-Haber-Inst. Max-Planck-Gesellschaft, Berlin, DEU)
,
ERTL G
(Fritz-Haber-Inst. Max-Planck-Gesellschaft, Berlin, DEU)
,
MORITZ W
(Univ. Muechen, DEU)
,
CAMPBELL C T
(Univ. Washington, Washington)
資料名:
Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics
(Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻:
45
号:
15
ページ:
8638-8649
発行年:
1992年04月15日
JST資料番号:
D0746A
ISSN:
1098-0121
CODEN:
PRBMDO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)