文献
J-GLOBAL ID:200902057398560969
整理番号:91A0034796
模擬アニール逆解法における臨界温度の高速決定
Rapid determination of the critical temperature in simulated annealing inversion.
著者 (2件):
BASU A
(Univ. Hawaii at Manoa, HI)
,
FRAZER L N
(Univ. Hawaii at Manoa, HI)
資料名:
Science
(Science)
巻:
249
号:
4975
ページ:
1409-1412
発行年:
1990年09月21日
JST資料番号:
E0078A
ISSN:
0036-8075
CODEN:
SCIEA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)