文献
J-GLOBAL ID:200902058292428316
整理番号:90A0296986
薄膜中の定常状態熱レンズ測定のためのFresnel回折理論
Fresnel diffraction theory for steady-state thermal lens measurements in thin films.
著者 (2件):
WU S
(Univ. Alberta, Alberta, CAN)
,
DOVICHI N J
(Univ. Alberta, Alberta, CAN)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
67
号:
3
ページ:
1170-1182
発行年:
1990年02月01日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)