文献
J-GLOBAL ID:200902060511838457
整理番号:81A0267753
4端子法による不均一な抵抗性薄層の評価
Evaluation of inhomogeneous resistive layers by a four point method.
著者 (3件):
FODOR G
(Technical Univ. Budapest)
,
SZIL<span style=text-decoration:overline>A ́</span>GYI M
(Technical Univ. Budapest)
,
ZOMBORY L
(Technical Univ. Budapest)
資料名:
Electrocomponent Science and Technology
(Electrocomponent Science and Technology)
巻:
7
号:
4
ページ:
211-216
発行年:
1981年03月
JST資料番号:
C0101C
ISSN:
0305-3091
CODEN:
ECSTC5
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)