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文献
J-GLOBAL ID：200902060949305354
整理番号：84A0136237
MOSトランジスタにおける電荷ポンピング測定の信頼できる近似
A reliable approach to charge-pumping measurements in MOS transistors.
GROESENEKEN G
(Katholieke Univ. Leuven, Belgium)
,
MAES H E
(Katholieke Univ. Leuven, Belgium)
,
BELTR<span style=text-decoration:overline>A ́</span>N N
(Katholieke Univ. Leuven, Belgium)
,
DE KEERSMAECKER R F
(Katholieke Univ. Leuven, Belgium)
資料名：
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻： 31 号： 1 ページ： 42-53 発行年： 1984年01月
JST資料番号： C0222A ISSN： 0018-9383 CODEN： IETDAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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