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文献
J-GLOBAL ID：200902063794855580
整理番号：92A0047238
プラズマ処理高分子のXPS価電子帯分析
XPS Valence Band Analysis of Plasma-treated Polymers.
FOERCH R
(Univ. Western Ontario, Ontario, CAN)
,
BEAMSON G
(ICI, Cleveland, GBR)
,
BRIGGS D
(ICI, Cleveland, GBR)
資料名：
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻： 17 号： 12 ページ： 842-846 発行年： 1991年11月
JST資料番号： E0709A ISSN： 0142-2421 CODEN： SIANDQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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