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文献
J-GLOBAL ID：200902064100719983
整理番号：84A0429022
走査電子顕微鏡及びX線元素分析法を用いるミクロン及びサブミクロンフライアッシュ粒子の比較
Comparison of micron and submicron fly ash particles using scanning electron microscopy and X-ray elemental analysis.
KAUFHERR N
(Univ. Wisconsin - Milwaukee)
,
LICHTMAN D
(Univ. Wisconsin - Milwaukee)
資料名：
Environmental Science & Technology
(Environmental Science & Technology)
巻： 18 号： 7 ページ： 544-547 発行年： 1984年07月
JST資料番号： B0839A ISSN： 0013-936X CODEN： ESTHA 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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