文献
J-GLOBAL ID:200902065222588185
整理番号:86A0541922
p-p-およびn-s.i.-In0.53Ga0.47As/InPヘテロ構造のCV特性
CV profiling on p-p- and n-s.i.-In0.53Ga0.47As/InP heterointerfaces.
著者 (7件):
STEINER K
(Univ. Duisburg, Fed. Rep. of Germany)
,
SCHMITT R
(Univ. Duisburg, Fed. Rep. of Germany)
,
ZULEEG R
(Univ. Duisburg, Fed. Rep. of Germany)
,
KAUFMANN L M F
(Univ. Duisburg, Fed. Rep. of Germany)
,
HEIME K
(Univ. Duisburg, Fed. Rep. of Germany)
,
KUPHAL E
(German Post Office, Fed. Rep. of Germany)
,
WOLTER J
(Philips, The Netherlands)
資料名:
Surface Science
(Surface Science)
巻:
174
号:
1/3
ページ:
331-336
発行年:
1986年08月
JST資料番号:
C0129B
ISSN:
0039-6028
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)