文献
J-GLOBAL ID:200902066570053291
整理番号:81A0003334
光熱偏向分光法によるこん跡ガスの高感度その場検出
Sensitive in situ trace-gas detection by photothermal deflection spectroscopy.
著者 (4件):
FOURNIER D
(Lab. Optique Physique Centre National de la Recherche Scientifique, Paris)
,
BOCCARA A C
(Lab. Optique Physique Centre National de la Recherche Scientifique, Paris)
,
AMER N M
(Univ. California)
,
GERLACH R
(Univ. California)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
37
号:
6
ページ:
519-521
発行年:
1980年09月15日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)