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文献
J-GLOBAL ID：200902069053401564
整理番号：87A0396110
SPIDER VLSIのメタライゼーションパターンにおける電流密度と電圧降下をチェックするためのCADシステム
SPIDER - A CAD system for checking current density and voltage drop in VLSI metallization patterns.
HALL J E
(Texas Instruments Inc., MS, USA)
,
HOCEVAR D E
(Texas Instruments Inc., MS, USA)
,
YANG P
(Texas Instruments Inc., MS, USA)
,
MCGRAW M J
(Texas Instruments Inc., MS, USA)
資料名：
Digest of Technical Papers. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design
(Digest of Technical Papers. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design)
巻： 1986 ページ： 278-281 発行年： 1986年
JST資料番号： D0968C ISSN： 1092-3152 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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