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文献
J-GLOBAL ID：200902070193627196
整理番号：92A0434384
擬似ランダム試験における可試験性の測定
Testability Measures in Pseudorandom Testing.
ERCOLANI S
(Univ. Bologna, Bologna, ITA)
,
FAVALLI M
(Univ. Bologna, Bologna, ITA)
,
DAMIANI M
(Univ. Bologna, Bologna, ITA)
,
OLIVO P
(Univ. Bologna, Bologna, ITA)
,
RICCO B
(Univ. Bologna, Bologna, ITA)
資料名：
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 11 号： 6 ページ： 794-800 発行年： 1992年06月
JST資料番号： B0142C ISSN： 0278-0070 CODEN： ITCSDI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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