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文献
J-GLOBAL ID：200902070833981315
整理番号：89A0303895
超LSI機能テスター用集積化ピン・エレクトロニクス
Integrated pin electronics for VLSI functional testers.
GASBARRO J A
(Xerox Palo Alto Research Center, CA, USA)
,
HOROWITZ M A
(Stanford Univ., CA, USA)
資料名：
IEEE Journal of Solid-State Circuits
(IEEE Journal of Solid-State Circuits)
巻： 24 号： 2 ページ： 331-337 発行年： 1989年04月
JST資料番号： B0761A ISSN： 0018-9200 CODEN： IJSCBC 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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