文献
J-GLOBAL ID:200902071449775941
整理番号:90A0190632
粒子配向VO2薄膜の形成とその評価
Formation and characterization of grain-oriented VO2 thin films.
著者 (3件):
DE NATALE J F
(Rockwell International Science Center, California)
,
HOOD P J
(Rockwell International Science Center, California)
,
HARKER A B
(Rockwell International Science Center, California)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
66
号:
12
ページ:
5844-5850
発行年:
1989年12月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)