文献
J-GLOBAL ID:200902071613012768
整理番号:87A0546385
小さいトンネル接合における単電子充電効果の観測
Observation of single-electron charging effects in small tunnel junctions.
著者 (2件):
FULTON T A
(AT & T Bell Lab., NJ, USA)
,
DOLAN G J
(AT & T Bell Lab., NJ, USA)
資料名:
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻:
59
号:
1
ページ:
109-112
発行年:
1987年07月06日
JST資料番号:
H0070A
ISSN:
0031-9007
CODEN:
PRLTAO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)