文献
J-GLOBAL ID:200902071721059649
整理番号:91A0606366
原子間力顕微鏡に応用された光学的走査補正系
Optical scan-correction system applied to atomic force microscopy.
著者 (2件):
BARRETT R C
(Stanford Univ., California)
,
QUATE C F
(Stanford Univ., California)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
62
号:
6
ページ:
1393-1399
発行年:
1991年06月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)