文献
J-GLOBAL ID:200902071776247304
整理番号:86A0276674
計算機制御による熱電薄膜の高温特性の測定
Thermoelectric thin-film high-temperature measurements by computer control.
著者 (5件):
ROBERTS S S
(Atlantic Richfield Co., Texas)
,
RABINOVICH S M
(Atlantic Richfield Co., Texas)
,
SHING Y H
(Atlantic Richfield Co., Texas)
,
TRAN N T
(Atlantic Richfield Co., Texas)
,
JOSEFOWICZ J Y
(Atlantic Richfield Co., Texas)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
57
号:
2
ページ:
276-284
発行年:
1986年02月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)