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文献
J-GLOBAL ID：200902071799885766
整理番号：86A0557775
半導体・電解質界面のin situ FTIR反射スペクトル
In-situ FTIR reflection spectroscopy for the semiconductor electrolyte interfaces.
CHANDRASEKARAN K
(Texas A&M Univ.)
,
BOCKRIS J O
(Texas A&M Univ.)
資料名：
Surface Science
(Surface Science)
巻： 175 号： 3 ページ： 623-650 発行年： 1986年10月
JST資料番号： C0129B ISSN： 0039-6028 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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