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文献
J-GLOBAL ID:200902072655570929   整理番号:84A0284278

サブミクロンSi反転層における離散的抵抗スイッチング 個々の界面トラップと低周波(1/f?)雑音

Discrete resistance switching in submicrometer silicon inversion layers: Individual interface traps and low-frequency (1/f?) noise.
著者 (7件):
RALLS K S
(Bell Lab., New Jersey)
SKOCPOL W J
(Bell Lab., New Jersey)
JACKEL L D
(Bell Lab., New Jersey)
HOWARD R E
(Bell Lab., New Jersey)
FETTER L A
(Bell Lab., New Jersey)
EPWORTH R W
(Bell Lab., New Jersey)
TENNANT D M
(Bell Lab., New Jersey)

資料名:
Physical Review Letters  (Physical Review Letters)

巻: 52  号:ページ: 228-231  発行年: 1984年01月16日 
JST資料番号: H0070A  ISSN: 0031-9007  CODEN: PRLTAO  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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